• 集成電路測試平臺ICE3200 產(chǎn)品型號:ICE3200
    集成電路測試平臺ICE3200
詳細內(nèi)容
一、測試主機
1. 邏輯分析儀功能:≥16路數(shù)字通道,支持SPI、I2C、并行信號分析;
2. 示波器功能:≥2通道,100MHz帶寬,≥1GS采樣率;
3. 任意波形發(fā)生器功能:頻率≥20MHz;
4. 數(shù)字萬用表功能:分辨率≥4?,最大電壓≥1000V;
5. 可編程直流電源功能:最大電壓≥6V、±12V,最大電流≥2A;
6. 具有≥2路PCI DUT接口,開放PCI接口定義,≥1個開放面包板,提供DUT,被測參數(shù)包括但不限于INL、DNL、LSB、Offset Error、SNR、THD、SINAD等;
7.支持Wifi、USB連接,支持LabVIEW、C和Python等編程語言開發(fā);
8. 配套《集成電路測試》實驗指導(dǎo)書,實驗內(nèi)容包含測試儀器使用、ADC靜態(tài)參數(shù)測試、ADC動態(tài)參數(shù)測試、運算放大器參數(shù)測試、晶體管參數(shù)測試、功能電路參數(shù)測試及用戶自定義實驗,并提供實驗程序;支持MCU、FPGA、LDO、EEPROM、FLASH等測試。

二、控制系統(tǒng)
1. Intel I5處理器;
2. 8G或以上內(nèi)存;
3. 120G或以上固態(tài)硬盤;
4. 21寸或以上液晶顯示器;
5. 專用工控機箱;
6. 配套鍵盤、鼠標等外設(shè)。

三、源表
1. 最大輸出功率:30W;
2. 最大輸出電壓、電流:30V、1A;
3. 輸出準確度:0.1%;
4. 測量準確度:0.1%;
5. 穩(wěn)定負載電容:<22nF;
6. 寬帶噪聲(20MHz):2mV RMS,<20mV Vp-p;
7. 采樣率:1000S/s。

四、半導(dǎo)體器件仿真、測試與分析實驗不少于30個

五、集成電路仿真、測試與分析實驗不少于18個
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